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低劑量(電離)輻射會致癌嗎?

*以下「輻射」一詞均指「電離輻射」(ionizing radiation)

任何劑量的電離輻射均可致癌。不論輻射來自天然環境、核電設施、本底/背景輻射(當中包括人為造成的)、醫療過程,任何劑量的輻射也可引致癌症,而且輻射劑量每增加一份,致癌風險亦隨之上升。輻射沒有所謂的「安全劑量」可言。

這不是什麼駭人聽聞的網上謠言,也不是反核人士的胡言亂語,而是科學界在長期研究和辯論中一再印證的結論,應該早已成為大眾的「科學常識」。

奇怪的是,每當核災或輻射污染事故發生,總會有政府官員、專家學者、自命理性的科普愛好者、甚至醫護人員,以或權威或輕描淡寫的姿態向大家說「少少輻射不會有問題」、「低劑量輻射對人體沒有影響」、「低劑量輻射是安全的」等不盡不實的訊息。如實告訴大家低劑量輻射也可致癌的專家,往往屬於少數例外。

根據美國國家科學院於2006年發表的《曝露於低劑量電離輻射的健康風險》(Health Risks from Exposure to Low Levels of Ionizing Radiation, BEIR VII),綜合過往的生物研究數據,「線性無閥值模型」(LNT, linear- no-threshold model)最能合理描述輻射劑量與患癌風險最的關係。也就是說,即使最微少劑量的輻射,也可增加人類患癌的風險,而且風險隨劑量按比例上昇(線性),並不存在一個不會致癌的所謂安全劑量(無閥值)。這是得到國際輻射防護委員會(ICRP)、美國國家輻射防護及測量議會(NCRP)、聯合國核輻射效應科學委員會(UNSCEAR)等機構認可的風險評估模型。

[圖PS-4 在一生之中,每100 人約有42人會被診斷出患上癌症(以黑圓點代表)。根據這份報告的計算,在背景輻射之上,單次的0.1Sv低能量直綫轉移輻射照射可在100人當中導致1宗癌症病例(以星形代表)。]

根據該報告的例子(圖PS-4),0.1Sv(=100mSV)的輻射在100人當中會額外(在原有個案以外)導致1宗癌症。依此推論,1mSv可在10,000人當中引致1宗癌症;或者可以說,對個人而言,1mSv的輻射會增加1/10,000的患癌風險。假設上述「綫性無閥值」模型和例子是正確的話,則可以設想一些例子,以顯示出低劑量輻射可引致的後果:

(1) 城市A人口為7百萬,其背景輻射為每年2.5mSv,則每年有2.5x7,000,000/10,000= 1750人會因背景輻射而在一生之中(受照後數年、10、20、30或40年後)患上癌症。

(2) 城市A受核災影響,「背景輻射」上升到每年20mSv,則每年因「背景輻射」而患上癌症的人數會為原來的8倍,即8x1750=14,000人(或20x7,000,000/10,000=14,000人)。若情況持續5年,則會有7萬人因此上患症。

(3) 隣近城市B人口有1千萬,准許受輻射污染的食物入口,上限為每人每年攝入1mSV的輻射。這項規定等於容許最多每年有1x10,000,000/10,000=1000人因進食受輻射污染食物而患上癌症。

(4) 某醫療集團推廣驗身計劃,其中包括輻射劑量為10mSv的CT scan。若有25萬人參加,則會有10x250,000/10,000=250人在其一生中因此而患上癌症。

上述例子旨在說明:任何劑量的輻射均會帶來癌病的風險。若受影響的人數眾多,持續的低劑量輻射的也可帶來數目龐大的癌症個案和死亡。

所有的科學模型皆簡化了現實世界的複雜性。上述的例子只是以整體(美國)人口「平均而言」的粗略計算。相對於「平均人口」,女性和小孩對輻射較為敏感,同一份量的輻射對她們構成的風險亦相對較高。此外,由於每個人對輻射的反應都不同,我們無法從這種模型準確預測輻射對每個人的影響。

任何劑量的電離輻射均可致癌,並沒有所謂的「安全劑量」可言,而輻射對人體的影響是會累積的,這是每名市民都應該知道的事,因為這與我們的個人和整體利益攸關。市民在考慮應否讓核設施運行、 應否讓受輻射污染的食物入口、是否接受某項放射性醫療檢查或治療的時候, 也應該要考慮這項因素。

參考資料:
BEIR VII Report in Brief

Puskin JS. 2009. Perspective on the Use of LNT for Radiation Protection and Risk Assessment by the U.S. Environmental Protection Agency. Dose-Response, 7:284-291

NRC (National Research Council). 2006. Health Risks from Exposure to Low Levels of Ionizing Radiation. BEIR VII Phase 2. Washington, DC: National Academy Press.